雜散光是
分光光度計的一項重要指標,它是指與測試波長不同的其他波長的光。雜散光的存在對測量結果的影響很大,分析計算表明:由于雜散光的存在而引起的透射比測量誤差近似等于雜散光本身,由此可見雜散光是分光光度計的重要誤差來源之一。
分光光度計產生雜散光的因很多,其較主要的原因大致有以下9個方面:
1、灰塵沾污光學元件,如光柵、棱鏡、透鏡、反射鏡、濾光片等;
2、光學元件被損傷,或光學元件產生的其他缺陷,如光柵、透鏡和反射鏡、棱鏡材料中的氣泡等;
3、準直系約部或有關隔板邊緣的反射;
4、光學系統(tǒng)或檢測器沒有作適當的屏蔽;
5、熱輻射或熒光引起的二次電子發(fā)射;
6、狹縫的缺陷;
7、光束孔徑不匹配;
8、光學系統(tǒng)的像差;
9、單色器內壁黑化處理不當。
分光光度計只測試220nm處的雜散光,
不測試340nm處的雜散光,
這樣是不正確的,
需測試220nm處雜散光是因為:
?、贀x器學理論中的電光源理論,氘燈在220nm處能量很小,即信號很小,容易顯現雜散光;
?、诟鶕孔庸鈱W理論,波長是能量的倒數,波長短能量大,容易產生雜散光,而220nm處屬于短波部分;
③根據儀器學理論中的光電發(fā)射理論,光電倍增管在220nm處的光譜響應(靈敏度)低,容易顯現雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的,因為340nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調換濾光片的地方,此時容易產生雜散光。所以,對于分光光度計來講,應該測試220nm和340nm兩處的雜散光。
雜散光的測試方法:
1、首先將參比液注入配對石英石吸收池,分別放置在參比池座和試樣池座內。再測定波段掃描基線并使之平滑。
2、將減光片插入試樣光路的濾光片槽內,其讀數即為減光片的衰減值K,然后將減光片插入參比光路的濾光片座內,
3、將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液,插入試樣試樣池座中,在相應的波段內掃描、打??;在記錄紙的作標上量取測定波長處的透光度,乘以衰減值K,即得各測定波長處的雜散光值。